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| 사건개요. 개요는 대전지방공소청 |
대전지방공소청 중대범죄기소2부와 지식재산처는 14일 반도체 검사 핵심기술을 빼돌려 해외 생산에 사용한 혐의(부정경쟁방지법위반 및 산업기술보호법위반 등)로 피해기업 전 직원 3명을 기소했다고 밝혔다. 이 중 중국 업체에서 외주 설계 등 공정 관련 설계를 총괄한 40대 A씨는 구속 기소했다.
해외로 도주한 전직 임원이자 현재 해외 제조기업 사장인 D씨 지명수배가 내려졌다.
이들은 2023년 11월부터 올해 2월까지 국내 피해기업 현지 유통을 담당하는 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 설립, 피해기업의 반도체 검사 핵심기술 설계 도면과 자료를 활용해 제품을 생산·공급한 혐의를 받는다.
조사결과 피해기업의 전 생산관리팀장이었던 A씨와 엔지니어로 근무하던 B·C씨가 함께 했다. 이들은 기존 연봉보다 2배 높은 보수를 받는 조건으로 2023년 11월 D씨가 사장인 해외 제조기업으로 이직한 것으로 드러났다.
이후 이들은 피해기업이 보유한 '프로브카드 기술'을 활용해 시제품을 제작했으며, 지난해 12월 해당 제품을 해외에 공급한 것으로 조사됐다.
프로브카드 기술은 반도체 칩의 불량 여부를 웨이퍼 상태에서 검사하는 반도체 검사장비로, 미국과 일본 기업 등이 시장을 선점해 온 분야다.
이번 사건은 지식재산처 기술경찰이 해외 기술유출 사범을 구속해 공소청이 기소한 제1호 사건이다. 지식재산처는 2024년 12월 국가정보기관으로부터 첩보를 입수해 수사를 개시했으며, 공소청은 수사 진행 과정에서 증거 획득, 수사 방향, 범죄사실 특정 등 지식재산처와 협력했다.
공소청은 "피고인들이 죄에 상응하는 처벌을 받을 수 있도록 공소유지에 최선을 다하겠다"며 "지식재산처와 국정원 산업기술보호센터 등 유관기관과 긴밀히 협력해 기술유출 범죄에 엄정 대응하겠다"고 밝혔다.
이상문 기자
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이상문 기자






